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簡要描述:下一代垂直Laue晶體定向系統(tǒng)有三種配置可供選擇——垂直、水平和顆粒圖——光子科學(xué)背反射Laue系統(tǒng)允許實時晶體定向,精度低至0.1度。單晶的電光特性強(qiáng)烈依賴于晶體取向。Laue工具從單晶中收集高分辨率的X射線衍射圖案,從而能夠以優(yōu)異的精度選擇正確的晶面。
產(chǎn)品型號: LAUESYS
所屬分類:晶體定向儀
更新時間:2024-12-17
從非線性光學(xué)到噴氣發(fā)動機(jī)渦輪葉片和超導(dǎo)材料,單晶材料在新型器件中發(fā)揮著重要作用。高分辨率晶體定向系統(tǒng)是捕獲和分析各種晶體材料的Laue衍射圖案的理想工具。
使用專用軟件,可以快速準(zhǔn)確地測量單晶的取向
該系統(tǒng)在樣品上提供小于0.3mm的強(qiáng)X射線束。單晶的電光特性強(qiáng)烈依賴于晶體取向。
LAUE工具從單晶中收集高分辨率的X射線衍射圖,從中可以非常準(zhǔn)確地選擇正確的晶面切割。
主要功能
有垂直、水平和顆粒貼圖配置
即插即用緊湊型機(jī)柜系統(tǒng)-無需定制工作臺或額外服務(wù)
全自動和電動XYZ平臺和測角儀,可提供手動選項
CCD背反射、高分辨率、高靈敏度x射線探測器
專有聚焦光學(xué)器件,提供較小的準(zhǔn)直光束尺寸
使用機(jī)載高分辨率觀察相機(jī)快速精確地對準(zhǔn)小晶體
用于精確和可重復(fù)樣品定位的距離測量工具
專門的Laue軟件用于全面控制、數(shù)據(jù)采集、處理和分析
高通量樣品篩選選項
垂直Laue配置
垂直Laue系統(tǒng)是最靈活的配置,它使用垂直光束路徑對隔離的多個晶體或多個感興趣的區(qū)域進(jìn)行高通量掃描。使用重力,樣品不需要粘附在平臺上,從而更容易安裝和定向晶體。光束尺寸小于200µm時,可容納亞毫米范圍的樣品和渦輪合金等較大部件。
水平Laue配置
Laue系統(tǒng)也可采用傳統(tǒng)的水平幾何形狀。水平Laue系統(tǒng)非常適合定向晶體進(jìn)行切割或快速掃描晶體以識別反射。
顆粒圖配置
一種垂直系統(tǒng),具有特殊的相機(jī)、鏡頭、照明和繪圖軟件,用于測量每個顆粒的方向。Grain Map包括一個全電動XYZ載物臺和角度計作為標(biāo)準(zhǔn),非常適合于硅片的晶粒映射。
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