下一代垂直Laue晶體定向系統(tǒng) 有三種配置可供選擇——垂直、水平和顆粒圖——光子科學背反射Laue系統(tǒng)允許實時晶體定向,精度低至0.1度。 單晶的電光特性強烈依賴于晶體取向。Laue工具從單晶中收集高分辨率的X射線衍射圖案,從而能夠以優(yōu)異的精度選擇正確的晶面。
下一代垂直Laue晶體定向系統(tǒng) 有三種配置可供選擇——垂直、水平和顆粒圖——光子科學背反射Laue系統(tǒng)允許實時晶體定向,精度低至0.1度。 單晶的電光特性強烈依賴于晶體取向。Laue工具從單晶中收集高分辨率的X射線衍射圖案,從而能夠以優(yōu)異的精度選擇正確的晶面。
l 系統(tǒng)通過*的實時數字化背向散射記錄勞厄衍射圖案。系統(tǒng)中心的6.2mm直徑的孔允許X射線通過相機并照射到被測晶體。因為系統(tǒng)的快速讀出速率和低噪聲。相機可以實時曝光(在犧牲分辨率條件下),也可以延長高達20分鐘的曝光時間(全分辨率條件下)
標準背向反射X射線CCD 有效感光面積:155(h)x105(v)mm 最小輸入像元尺寸:57μmx57μm 像素分辨率:2774x1843 犧牲分辨率條件下,可以增加像元靈敏度